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      氧化層測厚儀

      氧化層測厚儀

      更新時間:2021-07-29

      產品型號:PD-CT1

      廠商性質:經銷商

      生產地址:浙江省紹興市

      產品報價:

      產品特點:氧化層測厚儀PD-CT1 是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域,是材料保護*的儀器。

      產品詳情

      氧化層測厚儀PD-CT1

      本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域,是材料保護*的儀器。

      本儀器符合以下標準:

      GB/T 4956─1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法

      GB/T 4957─1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流方法

      JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀

      JJG 889─95《磁阻法測厚儀》

      JJG 818─93《電渦流式測厚儀》

      氧化層測厚儀PD-CT1

      l采用了磁性和渦流兩種測厚方法

      l測量范圍:(0~1250)μm

      l低限分辨率:1μm

      l測量精度:±(3%H+1)μm,H為被測涂層厚度

      l顯示方法:高對比度的LCD液晶顯示,高亮度EL背光

      l存儲容量:可存儲5組測量數據,每組多保存100個測量值

      l顯示單位:公制(μm)、英制(mil)

      l工作電壓:3V(一節CR123A型鋰電池)

      l外形尺寸:136mm×76mm×25mm

      l整機重量:約200g

      PD-CT1

      l采用了磁性和渦流兩種測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;

      l具有兩種測量方式:連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);

      l具有兩種工作方式:直接方式(DRT)和批組方式(GRP);

      l具有高精度測量模式:多次測量取平均,并對可疑數據進行自動過濾,可確保測量值更加準確、穩定;

      l具有溫度補償功能:可自動對環境溫度及測頭溫度改變引起的測量誤差進行補償,使測量更準確;

      l設有五個統計量:平均值(MEAN)、值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(NO.)、標準偏差(S.DEV);

      l可采用零點校準、單點校準或兩點校準法對儀器進行校準,并可用基本校準和溫度系數校準法對測頭的系統誤差進行修正;

      l具有存儲功能:多可存儲500個測量值;

      l具有刪除功能:對測量中出現的單個可疑數據進行刪除,也可刪除存儲區內的所有數據,以便進行新的測量;

      l可設置限界:對限界外的測量值自動報警;

      l具有電源電量指示功能;

      l操作過程有蜂鳴聲提示;

      l設有三種關機方式:手動關機方式、超時自動關機方式以及低電量自動關機方式,并可設置超時自動關機等待時間,自動關機時伴有背光閃爍及蜂鳴提示;

      PD-CT1

      l溫度:0℃~40℃

      l濕度:20%RH~90%RH

      l周圍環境無強烈振動、無強烈磁場、無腐蝕性介質及嚴重粉塵

      PD-CT1

       

      名稱

      數量

      主機

      1臺

      F型或N型或FN型測頭

      1只

      標準片

      5片

      F型或N型基體

      1塊

      CR123A型3V干電池

      1節

      使用說明書

      1本

      合格證

      1張

      產品保修卡

      1張

      質量反饋意見書

      1張

      PD-CT1

       

      測頭類型

      F型

      N型

      工作原理

      磁感應

      渦流

      測量范圍(μm)

      0~1250

      0~1250

      銅上鍍鉻 0~40

      低限分辨力(μm)

      1

      1

      示值

      零點校準(μm)

      ±(3%H+1)

      ±(3%H+1)

      兩點校準(μm)

      ±[(1~3)%H+1]

      ±[(1~3)%H+1]

      小曲率半徑(mm)

      凸1.5

      凸3

      小面積的直徑(mm)

      Φ7

      Φ5

      基體臨界厚度(mm)

      0.5

      0.3

       

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